Customized SiC Seed Crystal Substrates Dia 205/203/208 4H-N Type para sa Optical Communications
Teknikal nga mga parametro
Silicon carbide nga liso nga wafer | |
Polytype | 4H |
Sayop sa orientasyon sa nawong | 4° padulong sa<11-20>±0.5º |
Pagkasukol | pagpahiangay |
Diametro | 205±0.5mm |
Gibag-on | 600±50μm |
Pagkagahi | CMP, Ra≤0.2nm |
Densidad sa Micropipe | ≤1 ea/cm2 |
Mga garas | ≤5,Total Length≤2*Diametro |
Edge chips/indents | Wala |
Pagmarka sa atubangan sa laser | Wala |
Mga garas | ≤2,Total Length≤Diameter |
Edge chips/indents | Wala |
Polytype nga mga lugar | Wala |
Pagmarka sa likod sa laser | 1mm (gikan sa ibabaw nga ngilit) |
Edge | Chamfer |
Pagputos | Multi-wafer nga cassette |
Pangunang mga Kinaiya
1. Crystal Structure ug Electrical Performance
· Crystallographic Stability: 100% 4H-SiC polytype dominance, zero multicrystalline inclusions (eg, 6H/15R), uban sa XRD rocking curve full-width sa half-maximum (FWHM) ≤32.7 arcsec.
· Taas nga Carrier Mobility: Electron mobility sa 5,400 cm²/V·s (4H-SiC) ug hole mobility sa 380 cm²/V·s, makahimo sa high-frequency device designs.
· Katig-a sa Radiation: Makasukol sa 1 MeV neutron irradiation nga adunay displacement damage threshold nga 1×10¹⁵ n/cm², maayo alang sa aerospace ug nuclear applications.
2. Thermal ug Mechanical Properties
· Talagsaon nga Thermal Conductivity: 4.9 W/cm·K (4H-SiC), triple kay sa silicon, pagsuporta sa operasyon labaw sa 200°C.
· Ubos nga Thermal Expansion Coefficient: CTE sa 4.0 × 10⁻⁶ / K (25-1000 ° C), pagsiguro sa pagkaangay sa silicon-based nga packaging ug pagpamenos sa thermal stress.
3. Pagkontrol sa Depekto ug Katukma sa Pagproseso
· Micropipe Density: <0.3 cm⁻² (8-inch wafers), dislokasyon density <1,000 cm⁻² (verify pinaagi sa KOH etching).
· Surface Quality: CMP-pinasinaw sa Ra <0.2 nm, pagtagbo EUV lithography-grade flatness kinahanglanon.
Pangunang mga Aplikasyon
Domain | Mga Sitwasyon sa Aplikasyon | Teknikal nga mga Bentaha |
Optical nga Komunikasyon | 100G/400G lasers, silicon photonics hybrid modules | Ang mga substrate sa binhi sa InP makahimo sa direkta nga bandgap (1.34 eV) ug heteroepitaxy nga nakabase sa Si, nga nagpakunhod sa pagkawala sa optical coupling. |
Bag-ong Enerhiya nga Sasakyan | 800V high-voltage inverters, onboard chargers (OBC) | Ang mga substrate sa 4H-SiC makasukol> 1,200 V, nga nakunhuran ang pagkawala sa conduction sa 50% ug ang gidaghanon sa sistema sa 40%. |
5G Komunikasyon | Millimeter-wave RF device (PA/LNA), base station power amplifier | Ang semi-insulating SiC substrates (resistivity>10⁵ Ω·cm) makahimo sa high-frequency (60 GHz+) passive integration. |
Mga Kagamitan sa Industriya | Mga sensor sa taas nga temperatura, kasamtangan nga mga transformer, mga monitor sa nukleyar nga reaktor | Ang mga substrate sa binhi sa InSb (0.17 eV bandgap) naghatag ug magnetic sensitivity hangtod sa 300%@10 T. |
Pangunang mga Kaayohan
Ang SiC (silicon carbide) nga mga seed crystal substrates naghatag og dili hitupngan nga performance nga adunay 4.9 W/cm·K thermal conductivity, 2–4 MV/cm breakdown field strength, ug 3.2 eV wide bandgap, nga makapahimo sa high-power, high-frequency, ug high-temperature nga mga aplikasyon. Nagpakita sa zero micropipe density ug <1,000 cm⁻² dislocation density, kini nga mga substrate nagsiguro nga kasaligan sa grabe nga mga kahimtang. Ang ilang chemical inertness ug CVD-compatible surfaces (Ra <0.2 nm) nagsuporta sa advanced heteroepitaxial growth (eg, SiC-on-Si) para sa optoelectronics ug EV power systems.
Mga Serbisyo sa XKH:
1. Customized Production
· Flexible Wafer Formats: 2–12-pulgada nga mga wafer nga adunay lingin, rectangular, o custom-shaped nga mga cut (±0.01 mm tolerance).
· Doping Control: Tukmang nitrogen (N) ug aluminum (Al) doping pinaagi sa CVD, pagkab-ot sa resistivity gikan sa 10⁻³ ngadto sa 10⁶ Ω·cm.
2. Advanced nga Teknolohiya sa Proseso'
· Heteroepitaxy: SiC-on-Si (compatible sa 8-inch nga silicon lines) ug SiC-on-Diamond (thermal conductivity>2,000 W/m·K).
· Defect Mitigation: Hydrogen etching ug annealing aron makunhuran ang mga depekto sa micropipe/density, pagpausbaw sa abot sa wafer ngadto sa>95%.
3. Mga Sistema sa Pagdumala sa Kalidad'
· End-to-End Testing: Raman spectroscopy (polytype verification), XRD (crystallinity), ug SEM (defect analysis).
· Mga Sertipikasyon: Nagsunod sa AEC-Q101 (awtomotibo), JEDEC (JEDEC-033), ug MIL-PRF-38534 (militar nga grado).
4. Global Supply Chain Support'
· Kapasidad sa Produksyon: Buwan nga output>10,000 ka mga wafer (60% 8-pulgada), nga adunay 48-oras nga paghatud sa emerhensya.
· Logistics Network: Coverage sa Europe, North America, ug Asia-Pacific pinaagi sa air/sea freight nga may temperature-controlled nga packaging.
5. Teknikal nga Co-Development'
· Joint R&D Labs: Magtinabangay sa SiC power module packaging optimization (eg, DBC substrate integration).
· IP Licensing: Paghatag GaN-on-SiC RF epitaxial growth technology licensing para makunhuran ang gasto sa R&D sa kliyente.
Summary
Ang SiC (silicon carbide) nga seed crystal substrates, isip usa ka estratehikong materyal, nag-usab sa pangkalibutanon nga mga kadena sa industriya pinaagi sa mga kalampusan sa pagtubo sa kristal, pagkontrol sa depekto, ug heterogenous nga panagsama. Pinaagi sa padayon nga pag-uswag sa wafer defect reduction, scaling 8-inch production, ug pagpalapad sa heteroepitaxial platforms (eg, SiC-on-Diamond), ang XKH naghatag ug taas nga kasaligan, cost-effective nga solusyon para sa optoelectronics, bag-ong enerhiya, ug advanced manufacturing. Ang among pasalig sa kabag-ohan nagsiguro nga ang mga kliyente nanguna sa neyutralidad sa carbon ug mga intelihente nga sistema, nga nagmaneho sa sunod nga panahon sa lapad nga bandgap nga semiconductor ecosystem.


